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新型光ディスク自動外観検査装置は卓越した
コストパフォーマンスを実現!!


コンパクトデザインに注目

欠陥検出用ヘッドは、1測定面について、わずかに300mm×120mm×150mm、光源及び受光素子を組み込んでいます。(電源ユニットは別置
検査部の占有する床面積は300mm×525mm、このサイズでディスクの両面同時検査に対応しています。オプションにてチルト角の測定機能も追加出来ます。
多機能検査に注目
検査項目は多彩です。従来の片面検査に加え、注目のマルチメディアに対応すべく、 両面同時検査も標準で装備しました。また、オプションにて半径位置36mm〜60mmの範囲の1半径位置で、ディスクのチルト角(ラジアル、タンジェンシャル各方向)の測定も行います。(測定は片面のみ)加えて、チルト角測定と同位置の反射率も測定します。

フレキシビリティーに注目

検査速度と、検査分解能を16段階で可変可能です。検査速度を優先させる場合は、最外周での円周方向分解能を54μmに設定することで検査時間は1.3秒/1ディスクになります。又、測定精度を優先させる場合は、最外周での円周方向の分解能を18μmに設定、検査時間は2.7秒/1ディスクになります。現場のニーズに合わせて、この間で16段階の設定が可能です。

新型光ディスク自動外観検査装置


項 目 仕 様
検査対象ディスク CD(Φ80/120)、CD−ROM、
DVD(両面検査可能)など
セクターの無い成膜後の光ディスク
欠陥
検出部
仕様
検出面選択 表面、裏面、両面選択可能
検査分解能 半径方向:20μm
円周方向:18〜54μm(半径60mmでの分解能
16段階に設定可能)
検査時間 1.3秒/1ディスク〜2.7秒/1ディスク
(検査分解能54μm〜18μmに対応
ディスクの着脱に必要な時間は含みません)
検査範囲 半径22.0〜60.0mm 0.1mmステップで可変
検出可能な欠陥 バリカス、傷、異物、黒点、シミ、ピンホール
(検出限度はサンプルテストにて確認)
欠陥検出素子 CCDラインセンサーカメラ 2式
13μm×13μm 2048画素
照明光源 ハロゲンランプ光源
100W光源電源及びライトガイド 2式
テレセントリック光学系
スピンドル ディスクチャック方式:真空チャック
超音波モータ :MU-60E(カメラ同期式)
チルト角
検出部
仕様
(オプション)
検出面 スピンドル装着時の下面
検査設定範囲 半径36.0mm〜60.0mmの任意の1点の1周分
チルト角ヘッドは固定位置です。
測定角度 ラジアル方向 :±1.5以内
タンジェンシャル方向 :±1.5以内
測定分解能 :0.01度
検出素子 2次元PSD(位置検出素子)
光源 赤色レーザ光(波長670nm、クラス2B)
レーザ変調 :変調周波数 2KHz
測定ポイント数 360点/1周
外形寸法 検出部:1565(H)×555(W)×600(D)mm
制御部:1300(H)×300(W)×525(D)mm
ディスク受渡部高さ:1124.5mm